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本发明为一种可以实现使结构比以往小型化和低成本化的半导体外部引线修正机和外观检查装置，具有将可以穿过外部引线的各引线间的各间隙的爪部每隔上述各间隙的１间距排列的第１间距修正爪和将可以穿过外部引线的各引线间的各间隙的爪部与上述第１间距修正爪的...
该专利属于三菱电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三菱电机株式会社授权不得商用。

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