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一种新型射频芯片测试装置制造方法及图纸
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下载一种新型射频芯片测试装置的技术资料
文档序号:31948157
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本实用新型提供了一种新型射频芯片测试装置,涉及芯片测试技术领域,射频测试设备前端下方开设有预留槽,且射频测试设备前端并位于预留槽下方铰接有附属板,附属板外壁下方嵌接有把手,且附属板内壁均匀嵌接有若干个夹持环一,附属板内壁且位于夹持环一前端均...
该专利属于上海凌测电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海凌测电子科技有限公司授权不得商用。
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