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一种磁式非接触式探针系统、探针及测量方法技术方案
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文档序号:31809262
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本发明提供了一种磁式非接触式探针系统、探针及测量方法,属于机床零件精密加工坐标系位置测量技术领域。解决了现有数控机床采用试切法或接触式探针设置零件的加工坐标系,试切法会在零件表面留下切削痕迹,且对刀精度较低以及接触式探针成本高、纤细的探针在...
该专利属于上海工程技术大学所有,仅供学习研究参考,未经过上海工程技术大学授权不得商用。
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