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本发明涉及一种改进SVR算法的电子设备故障预测方法，从电子设备状态监测器中提取能够表征电子设备状态退化全过程的样本数据；针对样本特征数据进行数据预处理；建立支持向量回归(SVR)预测模型；通过粒子群算法对SVR预测模型进行参数优化；基于粒子...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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