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本实用新型公开了一种芯片管脚状态的自动化测试装置，包括微控制单元、测试仪器、和所述微控制单元连接的可变电压模块，待测芯片连接在可变电压模块和测试仪器之间，该装置还包括由微控制单元控制的引脚选择模块和信号选择模块，所述引脚选择模块一端和所述待...
该专利属于苏州裕太微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州裕太微电子有限公司授权不得商用。

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