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本发明提供的一种基于IBIS模型评估DAC抗扰性能的测试方法，通过获取数模转换DAC芯片IBIS电路模型；基于DAC芯片IBIS电路模型，建立在两种工作模式下测试DAC芯片的测试电路；当在两种工作模式下的测试电路分别测试DAC芯片时，获得加...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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