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本发明公开一种芯片测试系统及环境控制设备。芯片测试系统包含环境控制设备、中央控制装置及芯片测试装置，环境控制设备包含设备本体及抵压装置。当芯片测试装置设置于设备本体的容置室中，且中央控制装置使抵压装置抵压芯片测试装置承载的多个芯片的一侧时，...
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