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用于测试半导体存储器的方法和装置制造方法及图纸
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下载用于测试半导体存储器的方法和装置的技术资料
文档序号:3085650
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一种用于进入存储器的特殊编程模式的方法。该特殊编程模式禁止由该存储器所进行的内部验证。该存储器包括用于程序验证的自动化电路。在该存储器不执行内部程序验证的情况下,多个字被编程到该存储器中。该特殊编程模式被退出,并且允许该存储器进行内部程序验...
该专利属于英特尔公司所有,仅供学习研究参考,未经过英特尔公司授权不得商用。
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