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存储器件（１０）中的一种内嵌电路（１４），用于取代一外部测试装置来执行耗时的任务，诸如在参比单元（２０）设定期间的电压验证。一外部测试装置（１６）将至少一个参比单元（２２）编程到一预定值。该内嵌电路使用该由外部装置编程的单元（２２）作为一比...
该专利属于爱特梅尔公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱特梅尔公司授权不得商用。

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