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能够降低耦合效应的存储单元编程方法技术
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下载能够降低耦合效应的存储单元编程方法的技术资料
文档序号:3081352
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本发明提供一种存储单元编程方法,在该存储单元编程方法中,使用多个阈值电压分布来执行第一至第n编程操作,以编入n位数据的第一至第n位。顺序地执行第一至第n编程操作。在第n编程操作中使用的阈值电压分布之间的阈值电压差小于或等于在第一至第n-1编...
该专利属于三星电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过三星电子株式会社授权不得商用。
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