专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
TDK株式会社
>
光学记录介质和将数据光学记录在其中的方法技术
>技术资料下载
下载光学记录介质和将数据光学记录在其中的方法的技术资料
文档序号:3064631
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种光学记录介质,包括:基底、在基底上形成的含有选自C、Si、Ge和Sn的元素作为主要成分的第一记录层、位于第一记录层附近的并含有选自C、Si、Ge和Sn的但是与第一记录层中含有的主要成分不同的元素作为主要成分的第二记录层。根据这样形成的光...
该专利属于TDK株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过TDK株式会社授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。