下载芯片测试电路、测试方法及测试装置的技术资料

文档序号:30561844

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本发明涉及芯片测试技术领域,公开了一种芯片测试电路,包括:第一数模转换器,用于获取第一参考电压,并通过数码值调节第一输出电压;第二数模转换器,用于获取第二参考电压,并通过数码值调节第二输出电压;电压合成模块,用于将第一输出电压和第二输出电压...
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