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系统、方法和装置用于使用针对例如在内联相干成像(ICI)期间被引导到工件或加工区域的成像光束计算的成像信号密度来监视材料加工。例如，可以使用成像信号密度来监视激光和电子束焊接工艺，例如完全熔透焊接或部分熔透焊接。在一些示例中，成像信号密度作...
该专利属于IPG光子公司所有，仅供学习研究参考，未经过IPG光子公司授权不得商用。

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