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一种MKIDs超导探测器阵列像元工作状态及位置的判别方法技术
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文档序号:29207830
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本发明涉及一种MKIDs超导探测器阵列像元工作状态及位置的判别方法,包括骤:搭建亚K低温测试系统,测试待测MKIDs探测器阵列芯片的原始谐振频率响应;保持亚K低温测试系统和待测MKIDs探测器阵列芯片安装状态不变,使用影响像元谐振特性的介质...
该专利属于中国科学院紫金山天文台所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院紫金山天文台授权不得商用。
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