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本实用新型公开了一种高精度芯片测试时间成本分析系统，包括FPGA计时模块；FPGA计时模块分别与集成电路自动测试机和待测试模块连接；FPGA计时模块通过数据传输模块与上位机实现数据通讯。本实用新型的高精度芯片测试时间成本分析系统，采用硬件计...
该专利属于胜达克半导体科技(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过胜达克半导体科技(上海)有限公司授权不得商用。

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