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本实用新型公开了一种半导体芯片精密测试装置，包括底座，所述底座的一侧底部位置固定安装有安装座，所述安装座的上表面开设有安装孔，所述底座的上表面中心位置开设有测试槽，所述底座的上部位于测试槽的外侧设有龙门架，所述龙门架的顶部居中位置贯穿有丝杆...
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