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本公开涉及一种用于测量薄膜光学常数的方法、系统、计算设备和存储介质，该方法包括：获取关于待测对象的第一光谱数据，第一光谱数据至少指示待测对象在入射光的多个波长下、对应于多个测量角度的反射率；基于第一光谱数据，提取预定波长下的第一光谱数据，预...
该专利属于上海复享光学股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海复享光学股份有限公司授权不得商用。

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