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本发明属于光学精密测量技术领域，针对光学生物传感器灵敏度不足、无法对单个离子或带电小分子相互作用分析的问题，本发明公开了一种基于单离子成像检测方法和装置，全内反射椭偏成像仪的探测光束，经电调制奇点耦合差分成像反应单元反射后，汇聚于CCD或C...
该专利属于中国科学院力学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院力学研究所授权不得商用。

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