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本发明提出了一种基于电离层测高仪的扰动观测方法，涉及电离层扰动观测领域。一种基于电离层测高仪的扰动观测方法，包括如下步骤：端口初始化：监控系统时间并判断时间是否到达指定时长；生成数据文件：通过端口写入控制到DDS板和RCVR板，开始扫频；系...
该专利属于中南民族大学所有，仅供学习研究参考，未经过中南民族大学授权不得商用。

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