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一种集成电路边界扫描测试装置，属于通信电子领域印制电路板上的集成电路测试领域。是利用计算机并行口进行边界扫描测试的装置，包括：底层接口模块；初试化模块；测试向量产生模块；测试模块；故障分析与定位模块；ＪＴＡＧ硬件接口模块；ＰＣＢ网表文件分析...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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