温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种集成电路仿真方法，包括：S1，基于集成电路的非电学域进行第一次仿真，获得影响电学域的第一电学域参数值，利用第一电学域参数值为第二仿真更新影响电学域的参数值；S2，进行第二仿真，获得影响非电学域第二非电学域参数值，利用第二非电...
该专利属于浙江甬聚电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江甬聚电子科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。