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本实用新型公开了一种用于集成电路加工用测试装置，包括工作台和检测台体，工作台的顶部固定安装有检测台体，检测台体和工作台之间呈凸型结构设置，检测台体相对两侧的工作台上设有夹持件，检测台体一侧的工作台上设有通风口，工作台远离通风口的一侧设有散热...
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