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本发明公开一种上电时序测试装置，包括复杂可编程逻辑器件，其分别连接时钟产生电路及并行单片机。并行单片机分别连接控制装置及显示装置。复杂可编程逻辑器件内含寄存器。还公开利用该测试装置进行测试的方法，包括：通过插槽或插板从主板引出测试信号；复杂...
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