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本公开提供了一种缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，该方法包括：获取模板图像、以及待检测图像；基于模板图像、以及待检测图像，生成与待检测图像对应的蒙版图像；蒙版图像中每个第一像素点的像素值，表征位置与每个第一像素点匹配的第二像素...
该专利属于北京市商汤科技开发有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京市商汤科技开发有限公司授权不得商用。

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