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一种集成电路包括差错检测电路３２３０－１至３２３０－４，这些差错检测电路能够检测到在预定时间窗口内的信号数值中的转变，这些转变指示集成电路在操作中的差错。该集成电路还包括存储单元３２９６，它能够存储数据处理装置的恢复状态，该恢复状态包括对应...
该专利属于ARM有限公司;密执安大学所有，仅供学习研究参考，未经过ARM有限公司;密执安大学授权不得商用。

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