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本发明公开了一种霍尔芯片老化测试装置，属于芯片测试用设备技术领域。一种霍尔芯片老化测试装置，包括壳体，壳体内设有老化测试机构，壳体后端面左右两侧均设有转动柱，转动柱圆周外壁中部固设有第一转动板，转动柱圆周外壁后部内侧固设有弧形齿条，转动柱前...
该专利属于罗学杰所有，仅供学习研究参考，未经过罗学杰授权不得商用。

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