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一种用于芯片测试机上多通道信号导通治具制造技术
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下载一种用于芯片测试机上多通道信号导通治具的技术资料
文档序号:27904102
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本实用新型公开了一种用于芯片测试机上多通道信号导通治具,包括治具本体,所述治具本体的内部分别开设有放置槽和凹槽,所述凹槽的表面开设有中心孔,所述治具本体正面顶部和底部的两侧均固定连接有固定块,所述固定块的内部活动连接有固定杆,所述固定杆的表...
该专利属于苏州全威电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州全威电子科技有限公司授权不得商用。
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