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本发明属于微电子技术与半导体器件技术领域，一种忆阻器件的阻抗谱测试与拟合方法，其中，测试方法，包括以下步骤：(1)自制测量夹具，(2)连接阻抗分析仪与测试探针台，(3)设置阻抗分析仪测量环境，(4)忆阻器件低阻态阻抗谱的测试，(5)忆阻器件...
该专利属于大连理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过大连理工大学授权不得商用。

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