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本发明公开了一种硅片质量检测方法、分类方法，其中，硅片质量检测方法包括以下步骤：一、对硅片进行清洗，在清洗后的硅片双面形成钝化膜并进行烧结处理，得到半成品；二、对半成品进行第一次少子寿命测试和光致发光测试，得到第一少子寿命值为A1和第一光致...该专利属于广东爱旭科技有限公司天津爱旭太阳能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东爱旭科技有限公司天津爱旭太阳能科技有限公司授权不得商用。