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本发明公开了一种应变片敏感栅尺寸参数测量方法，该方法所测得的应变片敏感栅尺寸参数能定性反映应变片电阻大小，属于应变片敏感栅尺寸参数测量领域。该方法首先通过拍摄装置拍摄应变片形貌图像；基于该图像进行图像预处理、笛卡尔坐标系建立、应变片灰度分布...
该专利属于西北工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过西北工业大学授权不得商用。

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