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本发明公开一种内存测试方法，是在对内存进行预烧测试、高温测试、低温测试及常温测试的过程中，将相对应的测试结果数据及测试参数写入该内存中。本发明还公开一种内存测试方法，是在对内存进行预烧测试、高温测试、低温测试及常温测试后，将相对应的测试结果...
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