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一种混合集成电路检测系统及方法技术方案
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文档序号:27191902
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本发明提出一种混合集成电路检测系统及方法,包括资源盒和检测夹具,所述的检测夹具包括PCB板、承载板、信号输入接口、检测探针结构和推动结构,资源盒与检测夹具之间通过信号输入接口进行电信号传递,PCB板和承载板平行固定,两者之间存在一定空隙,检...
该专利属于北京振兴计量测试研究所所有,仅供学习研究参考,未经过北京振兴计量测试研究所授权不得商用。
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