下载半导体结构及其形成方法的技术资料

文档序号:27091395

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一种半导体结构及其形成方法,方法包括:提供衬底;在所述衬底表面形成停止层;在所述停止层表面形成介电层;在所述介电层内形成第一开口,所述第一开口暴露出所述停止层表面;对所述第一开口底部的停止层进行改性处理,形成改性层;去除所述改性层,形成第二...
该专利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(北京)有限公司授权不得商用。

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