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本实用新型提供了一种检验芯片功能是否正常的检测装置，所述检测装置包括:位于待测芯片和两个USB连接器之间的以GPIO设置的一开关；所述的GPIO开关通过数据线将待测芯片的两个引脚分别与两个USB连接器连接；所述待测芯片的两个引脚分别为USB...
该专利属于北京君正集成电路股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京君正集成电路股份有限公司授权不得商用。

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