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本发明公开了一种测量光学设备插入损耗变化量的装置和方法，该损耗取决于入射光的偏振状态，即偏振依赖损耗。周期地受全部偏振状态控制的入射光通过偏振扰频器经过试验光学设备，该扰频器包括压电元件式光纤双折射调制器，同时光辐射探测器测量通过的光的强度...
该专利属于图南系统株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过图南系统株式会社授权不得商用。

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