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一种电光调制激光测距方法及其装置，该方法是利用激光的偏振特性作为信息载体来进行激光测距：利用单轴晶体的横向电光效应，配合偏振分光器和偏振检偏器，在单轴晶体上平行光轴方向施加半波电压时，利用其扭转线偏振光偏振方向９０角的特性，提取出一个以激光...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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