温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种集成电路测试系统，由上位控制机、背板接口电路、双独立总线电路和待测集成电路接口装置构成，背板接口电路上连接有电源，双独立总线电路与待测集成电路接口装置连接，背板接口电路与双独立总线电路之间连接有接口电路板，接口电路板与所述的上位控制机连...
该专利属于上海宏测半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海宏测半导体科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。