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用于测试电子器件的方法和装置制造方法及图纸
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文档序号:2634777
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一种用于测试诸如集成电路之类的电子器件的装置。在一个实施例中,公开了一种用于测试电子器件的装置,其包括例如测试接触器外壳(310)的外壳,所述外壳具有延伸穿过该外壳的多个测试接触器管脚。所述多个测试接触器管脚包括第一组电源管脚(350)、第...
该专利属于英特尔公司所有,仅供学习研究参考,未经过英特尔公司授权不得商用。
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