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本发明提供了使用内部半导体结来辅助非接触型测试的方法。利用关于特定于连接到被测器件的被测节点的被测器件的节点的半导体结特性的知识，改善了电容性引线框测试技术。...
该专利属于安捷伦科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安捷伦科技有限公司授权不得商用。

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