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本发明提出了一种改良的锶虚拟跳扫同位素质谱分析方法，其将待测样品使用多接收质谱计进行测量，该质谱计包含有不少于五个的接收器，该接收器所接收的质量数固定不变，不同的质量数由不同的接收器所接收，并通过动态的虚拟放大器的方式来读取接收器输出的电压...
该专利属于中国科学院地质与地球物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院地质与地球物理研究所授权不得商用。

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