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本发明涉及对测定对象物中的目的成分浓度进行测定的技术。本发明提供一种成分浓度的测定方法，其包括：将测定对象的状态设为第１磁场状态、对测定对象照射光、检测这时的来自测定对象的光的状态的第１步骤；将测定对象的状态设为与上述第１磁场状态不同的第２...
该专利属于爱科来株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过爱科来株式会社授权不得商用。

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