下载一种芯片温控测试台及其温控测试方法的技术资料

文档序号:25889072

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本发明提供了一种芯片温控测试台,包括设置在机架上的操作台,所述操作台上设置有密封舱,所述密封舱的一端设置有与密封舱连接的干燥机构和冷却机构,密封舱内设置有测试机构,所述测试机构包括若干个温控测试台,所述温控测试台包括设置在密封舱内的温控装置...
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