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一种用于评价机器（１）或者设备运行条件的方法，其中，至少一个参数被多次测量，以便建立一个数据库（６），该数据库（６）由所述参数的值（ｘ↓［１］，ｙ↓［１］）…（ｘ↓［ｎ］，ｙ↓［ｎ］）组成，　　　　其中，在该数据库（６）的基础上计算一个外推...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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