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在使用白色干涉条纹测量被测量物的三维形状的三维形状测量装置（白色干涉测量装置）中，可以缩短运算所需要的处理时间，并且可以高精度地确定白色干涉条纹的振幅的包络线为最大的位置。在白色干涉测量装置中，首先对于由来自参照镜（６）的返回光和来自被测量...
该专利属于国立大学法人电气通信大学所有，仅供学习研究参考，未经过国立大学法人电气通信大学授权不得商用。

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