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本发明公开了一种短波天线增益测试方法及系统，属于天线增益测试技术领域，包括以下步骤：S1：布置信号源及频谱仪；S2：布置待测天线与信标天线；S3：获取待测天线的信号幅值；S4：获取标准天线的信号幅值；S5：计算待测天线增益。在测试过程中，所...
该专利属于中国电子科技集团公司第三十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第三十八研究所授权不得商用。

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