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光学测量装置制造方法及图纸
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文档序号:2516473
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一种光学测量装置,测量一光学组件,其特征在于,该光学测量装置包含: 一基座; 一第一光纤对准器,设置于该基座之上; 一第一光纤,定位于该第一光纤对准器上,随该第一光纤对准器调整而移动; 一第二光纤对准器,设置于该基座...
该专利属于精碟科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过精碟科技股份有限公司授权不得商用。
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