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本发明涉及一种复杂点阵结构内部缺陷的三维分割方法及系统。该方法包括：获取构件的多张断层图像；构件为复杂点阵结构；对于第k张断层图像，采用集合灰度均值法对断层图像的缺陷进行识别，得到标记缺陷的缺陷图；缺陷图中采用标记矩形框标记缺陷；根据缺陷图...
该专利属于燕山大学所有，仅供学习研究参考，未经过燕山大学授权不得商用。

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