温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种用于评估光学装置的外观缺陷的方法，所述方法包括：第一获取步骤(S10)，在第一获取步骤期间，获取光学装置的第一外观缺陷集合；与第一获取步骤(S10)不同的第二获取步骤(S20)，在第二获取步骤期间，获取光学装置的第二外观缺陷集...
该专利属于依视路国际公司所有，仅供学习研究参考，未经过依视路国际公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。