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本发明提出了一种高速链路系统的测试装置，包括：芯片测试器件、传输插入损耗ISI衰减器件、串扰ISI衰减器件和串扰XTK测试器件；所述XTK测试器件，用于将接收到的串扰测试信号在接收到的传输测试信号中形成串扰信号，并将承载所述串扰信号的传输测...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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