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本发明公开了一种红外探测器杜瓦制冷组件的死隙测试方法及测试工装，红外探测器杜瓦制冷组件包括可拆卸连接的杜瓦组件和制冷机，制冷机的推移活塞组件适于在杜瓦组件的冷指内往返运动，杜瓦组件的耦合面与制冷机的耦合面接触；所述方法，包括：测试杜瓦组件的...
该专利属于中国电子科技集团公司第十一研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第十一研究所授权不得商用。

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